不同粒度測試方法的優(yōu)缺點(diǎn)
(1)激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,涵蓋行業(yè)廣泛,可實(shí)現(xiàn)濕法、干法、噴霧以及在線測量,也是當(dāng)下zui常用的粒度檢測儀器。缺點(diǎn):數(shù)據(jù)模型以及算法參數(shù)影響較大,成本相對較高。
(2)靜態(tài)圖像法:由顯微鏡、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn):成本較低,操作簡單,圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn):分析速度慢(制作標(biāo)本等工序),無法分析細(xì)顆粒(如<1μm)。
(3)動態(tài)圖像法:由顯微鏡、高速攝像機(jī)、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn):顆粒圖像直觀清晰,操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可干法也可濕法,可測量zui大顆粒,可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn):分析細(xì)顆粒(如<1μm)圖像不清晰,誤差較大,成本較高。
(4)電鏡法:用電子顯微鏡(掃描電鏡或透射電鏡)拍攝顆粒圖像,然后再進(jìn)行圖像分析的方法。優(yōu)點(diǎn):能分析納米顆粒和超細(xì)顆粒,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn):單幅圖像中的顆粒數(shù)少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
(5)篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于38μm(400目)的樣品。缺點(diǎn):不能用于超細(xì)樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(6)沉降法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格較低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測試范圍較大。缺點(diǎn):測試時間較長,操作較復(fù)雜,結(jié)果易受環(huán)境因素影響。
(7)光阻法:優(yōu)點(diǎn):測試速度快,可測液體或氣體中顆粒數(shù),分辨力高,樣品用量少。缺點(diǎn):進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,不適用粒徑<1μm的樣品。
(8)電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,可測顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn):不適合測量超細(xì)樣品和寬分布樣品,更換小孔管比較麻煩。
(9)超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,無需取樣。缺點(diǎn):分辨率較低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差,結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
(10)透氣法(費(fèi)氏法):優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低,不用對樣品進(jìn)行分散,可直接測量干粉,可測磁性材料粉體。缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。